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高低温试验箱的试验严酷等级随下列因素而增加：温差的增大、温度变化速率的加快、更快的热传递机理，应规定所需的试验样品性能数据量相对应的最低严酷等级的试验，试验N优先用作序列试验的一部分，有些类型的损坏，不能在试验N的最后测量中显示出来，而只在随后的试验期间才有所表现，例如：试验Q：密封（GB/T 2423.23）、试验Fc和导则：振动（正弦GB/T 2423.10）试验Ca：恒定湿热（GB/T 2423.3）、试验Db：交变湿热（GB/T 2423.4），只要可能，条件试验时间应该这样规定：即按每天的工作时间或24h所配置的总循环次数，并照顾到恢复时间和最后检测的时间，如出于某种原因，避免在夜间转换而影响检测，有必要将试验样品继续在试验箱中保留此规定暴露在大气中时间较长的时间时，则应保留在低温箱中，因较长时间暴露在热大气环境中可产生老化效应，规定温度变化试验时，应考虑受试物品的性质及其在温度变化条件影响下可能损坏的机理，并据此来确定初始检测和最后检测的项目，有某些情况下，只考虑机械损坏就够了，尤其是对受试的设备，则应首先考虑在温度变化试验其间的性能检测。
Nvidia和AMD给出的参考规范，他们的合作伙伴，谁建的图形卡，坚持独特的规格。合作伙伴也允许以提高在该参考设计，并与超频GPU和内存和更好的组件，如高品质电容或更强大的电源相位创建定制卡。自定义显卡几乎都包括改进的冷却解决方案了。但他们也承载更高的价格标签比参考卡，他们历来限量销售的低利润率。